美国GE超声波探头MB4F简介

指尖探头B..F和MB..F系列探头：MB4F特性 与K..G和K..N探头相类似，由于其扁平设计，它们非常适合于那些不容易接近的位置的检测。经常被用作“搜索探头”。

MB4F主要应用： 通常：对所有类型零件内部或近表面分布缺陷的探测和评估。可以用于有保护膜的探头不适合于有锋利边缘的物体检测。

主要特性：
1.单晶体探头，用于超声脉冲的发射和接收
2.光滑表面上具有高的增益储备和非常好的分辨率
3.陶瓷接触表面的探头有高的抗磨损性
4.特殊的平指尖式探头
5.带可互换延迟线的探头具有*的近场分辨率
6.纵波的垂直扫描

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与K..G和K..N探头相类似，由于其扁平设计，它们非常适合于那些不容易接近的位置的检测。经常被用作“搜索探头”。
美国GE超声波探头MB2F主要特性：
1.单晶体探头，用于超声脉冲的发射和接收
2.光滑表面上具有高的增益储备和好的分辨率
3.陶瓷接触表面的探头有高的抗磨损性
4.特殊的平指尖式探头
5.带可互换延迟线的探头具有*的近场分辨率
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